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電子元器件介質損耗測試儀生產廠家

型 號GDAT-A

更新時間2023-08-07

廠商性質生產廠家

報價(jia)

產品描述:電子元器件介質損耗測試儀生產廠家是由二只測微電容器組成,平板電容器一般用來夾持被測樣品,園筒電容器是一只分辨率高達0.0033pF的線性可變電容器,配用儀器作為指示儀器,絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品

放進平板電容器和不放進樣品的Q值變化,由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時,由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數。

產品概述

1電子元器件介質損耗測試儀生產廠家產品特點

 介(jie)電常(chang)數及介(jie)質損耗測試儀(yi)讀書清晰,無(wu)須(xu)換算,操(cao)作(zuo)簡便,特別適合(he)電子元器件的質量分析(xi),品質控制,科(ke)研(yan)生產,也可用于高校的電子信(xin)息,電子通信(xin),材料科(ke)學等專業作(zuo)科(ke)研(yan)實驗儀(yi)器.

 


 

 

2電子元器件介質損耗測試儀生產廠家.技術指標

2.1  測量范圍及誤(wu)差

    本電(dian)橋的環境(jing)溫度為(wei)20±5℃,相對濕度為(wei)30%-80%條件下,應滿足

下列表(biao)中的技術(shu)指示要求。

  ;  在Cn=100pF    R4=3183.2(W)(即10K/π)時

    測量項(xiang)目   ;    測量范圍             測量誤(wu)差             

    電容量Cx       40pF--20000pF      ±0.5%  Cx±2pF   

    介質損耗(hao)tgd      0~1              ±1.5%tgdx±0.0001

  ;  在Cn=100pF      R4=318.3(W)(即1K/π)時

    測量項目       測量范圍             測量誤差             

    電容量Cx       4pF--2000pF      ±0.5%  Cx±3pF   

    介質(zhi)損耗tgd    ;  0~0.1          ±1.5%tgdx±0.0001

 

 

 

 

2.2  電橋測量靈敏度

    電橋(qiao)在使(shi)用過(guo)程中,靈敏度直接影響(xiang)電橋(qiao)平衡的分辨程度,為保(bao)證(zheng)測量準確度,

希望電橋(qiao)靈(ling)敏(min)度(du)達到(dao)一定的(de)水平。通常情況(kuang)下電橋(qiao)靈(ling)敏(min)度(du)與測量電壓,標準電容量

成正比。

    在下面的計算公(gong)式(shi)中,用(yong)戶可(ke)根據實際使用(yong)情況估算出電橋(qiao)靈敏度水平(ping),在這

個水平(ping)上的電容(rong)與介(jie)質(zhi)損耗(hao)因數的微小變化都能夠反(fan)應出來。

          DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx) 

         式中:U為測量電(dian)壓                     伏(fu)特(V)

ω為角頻率(lv) 2pf=314(50Hz)                          

          Cn標準電(dian)容(rong)器容(rong)量(liang)                    皮法(pF)

          Ig通用指(zhi)另儀的電(dian)流5X10-10            安培(A)

          Rg平衡指另儀內阻約1500              歐姆(W)

          R4橋臂R4電(dian)阻值3183                 歐姆(mu)(W)

          Cx被測(ce)試品電容值                    皮法(pF)

2.3 電容量及(ji)介損顯示精度(du):

    電容量: ±0.5%×tgδx±0.0001。

    介  損: ±0.5%tgdx±1×10-4

2.4 輔橋的技術特(te)性(xing):

    工作電壓±12V,50Hz

    輸入阻抗>1012 W

    輸出阻抗>0.6 W

    放大倍數>0.99

    不(bu)失真(zhen)跟(gen)蹤電壓  0~12V(有效(xiao)值)

2.5 指另裝置的技術(shu)特性:

    工作電壓±12V

    在50Hz時電壓靈敏度不(bu)低于(yu)1X10-6V/格, 電流靈敏度不(bu)低于(yu)2X10-9A/格

    二次諧(xie)波(bo)  減不小于25db

    三次諧(xie)波(bo)  減不(bu)小(xiao)于50db

 


技術參數:

1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023。
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c.標稱誤差
     頻率范圍(100kHz~10MHz): 頻率范圍(10MHz~160MHz):
     固有誤差:≤5%±滿度值的2% 固有誤差:≤6%±滿度值的2%
     工作誤差:≤7%±滿度值的2% 工作誤差:≤8%±滿度值的2%
2.電感測量范圍:4.5nH~7.9mH
3.電容測量:1~205
     主電容調節范圍:18~220pF
     準確度:150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1%
     注:大于直接測量范圍的電容測量見后頁使用說明
4.  信號源頻率覆蓋范圍
     頻率范圍CH1:0.1~0.999999MHz, CH2: 1~9.99999MHz,
     CH3:10~99.9999MHz, CH1 :100~160MHz,
5.Q合格指示預置功能:      預置范圍:5~1000。
6.B-測試儀正常工作條件
a.  環境溫度:0℃~+40℃;
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c. 外(wai)型尺寸(cun):(l×b×h)mm:380×132×280。


是(shi)根據(ju)GB/T 1409《測量電氣絕緣材(cai)料在(zai)工頻(pin)(pin)、音頻(pin)(pin)、高頻(pin)(pin)(包括米波波長在(zai)內)下電容率和(he)介質損耗(hao)因數的試(shi)驗方(fang)法》(等(deng)效采用IEC 60250)設計和(he)制造的,并符合JB 7770等(deng)試(shi)驗方(fang)法。它適用于(yu)在(zai)高頻(pin)(pin)(1MHz)下絕緣材(cai)料的測試(shi)。

 

作為(wei)一代(dai)的(de)通用、多用途、多量程的(de)阻(zu)抗測(ce)試(shi)儀器,測(ce)試(shi)頻率上限(xian)達(da)到(dao)目前高的(de)160MHz。

1 雙掃描技(ji)術 - 測試頻率和調(diao)諧電容的雙掃描、自動(dong)調(diao)諧搜索功(gong)能。

2 雙測(ce)試(shi)要素輸入 - 測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)及調諧(xie)電(dian)容值(zhi)皆(jie)可通(tong)過(guo)數字按鍵輸入。

3 雙數(shu)碼化(hua)(hua)調諧(xie)(xie)(xie) - 數(shu)碼化(hua)(hua)頻率調諧(xie)(xie)(xie),數(shu)碼化(hua)(hua)電容調諧(xie)(xie)(xie)。

4 自動(dong)化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振(zhen)點頻率和(he)電容的(de)自動(dong)測量。

5 全參數液晶顯(xian)示(shi) – 數字顯(xian)示(shi)主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率(lv)、諧振指(zhi)針。

6 DDS 數字直接合(he)成的(de)信號(hao)源 -確保信源的(de)高(gao)葆(bao)真,頻率(lv)的(de)高(gao)精確、幅度(du)的(de)高(gao)穩定。

7 計(ji)算機自(zi)動修正(zheng)技(ji)術和測(ce)試回(hui)路*化 —使測(ce)試回(hui)路 殘(can)余電感減至(zhi)zui低, Q 讀數值在不同頻率時要(yao)加以修正(zheng)的(de)困惑。

 

 

 

特點:
◆ 優化的測試電路設計使殘值更小
◆ 高頻信號采用數碼調諧器和頻率鎖定技術
◆ LED 數字讀出品質因數,手動/自動量程切換
◆ 自動掃描(miao)被測(ce)件(jian)諧(xie)振(zhen)點,標頻單鍵設置(zhi)和鎖定,大(da)大(da)提高測(ce)試速(su)度

 

 

 

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售后服務
一、安裝調試:協助試驗機的安裝,負責試驗機的運輸、調試。
二、驗收標準:試驗機按訂貨技術附件進行驗收。終驗收在買方進行,對用戶提供的試樣進行試驗,并提供測試報告。
三、培訓:安裝調試同時,在儀器操作現場一次性免費培訓操作人員2-3名,該操作人員應是由需方選派的長期穩定的員工,培訓后能夠對設備基本原理、軟件使用、操作、維護事項理解和應用,使人員能夠獨立操作設備對樣品進行檢測、分析,同時能進行基本的維護。
四、軟(ruan)(ruan)件(jian)升級:終(zhong)生免費提供新版本控制軟(ruan)(ruan)件(jian)。

 

 

 

保修:
1、設備保修兩年,終身售后服務,兩年內非人為損壞的零部件免費更換,保修期內接到用戶邀請后, zui遲響應時間為2小時內,在與用戶確認故障后,我公司會在48小時內派工程師到達現場進行免費服務,盡快查清故障所在位置和故障原因,并向用戶及時報告故障的原因和排除辦法 。
2、保修期內人為損壞的零部件按采購(加工)價格收費更換。
3、保修期外繼續為用戶提供優質技術服務,在接到用戶維修邀請后3天內派工程師到達用戶現場進行維修。并享有優惠購買零配件的待遇。
4、傳感器過載及整(zheng)機(ji)電路超壓損壞不在保(bao)修范圍內。

 

 

 

標準配置:
高配Q表 一只 
試驗電極  一只 (c類)
電感      一套(9只)
電源線    一條
說明書    一份
合格證    一份
保修卡    一份

 

 

 

 


使用方法

高(gao)頻(pin)Q表是多用途的阻抗(kang)測量(liang)儀器,為了(le)提高(gao)測量(liang)精度,除了(le)使(shi)Q表測試(shi)回(hui)路(lu)本身殘余參量(liang)盡可(ke)能地小,使(shi)耦合回(hui)路(lu)的頻(pin)響(xiang)盡可(ke)能地好之外(wai),還要掌握(wo)正確的測試(shi)方法和殘余參數修(xiu)正方法。

1.測試注意事項

a.本儀器應水平安放;

b.如果你需要較(jiao)精確地測量,請接通電(dian)源后,預熱30分鐘(zhong);

c.調節主(zhu)調電容(rong)或主(zhu)調電容(rong)數碼(ma)開關時(shi)(shi),當(dang)接近諧(xie)振點時(shi)(shi)請緩調;

d.被測件和(he)測試電路接線柱間的接線應盡量短,足夠粗,并應接觸良好、可靠,以減少(shao)因接線的電阻和(he)分布參(can)數(shu)所帶來的測量誤差;

e.被測(ce)件不要直(zhi)接(jie)擱在面板頂(ding)部,離頂(ding)部一公分以上(shang),必要時(shi)可(ke)用低損(sun)耗的絕緣(yuan)材料如聚苯乙(yi)烯等做成的襯(chen)墊(dian)物(wu)襯(chen)墊(dian);

f.手不(bu)得(de)靠近試件,以免人體感應影響造成(cheng)測(ce)量誤(wu)差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱。

2.高頻線圈(quan)的Q值測量(基本測量法)

特點:

◎ 本公司創新的自動Q值保(bao)持技術,使測(ce)Q分辨(bian)率至0.1Q,使tanδ分辨(bian)率至0.00005 。

◎ 能(neng)對固體(ti)絕緣材料(liao)在10kHz~120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化(hua)的(de)測試。

◎ 調(diao)諧回(hui)路殘余電(dian)感值低(di)至8nH,保(bao)證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多(duo)參數:Q值,測(ce)試頻(pin)率,調諧狀態(tai)等。

◎ Q值量程(cheng)(cheng)自動(dong)/手動(dong)量程(cheng)(cheng)控制。

◎ DPLL合成發生(sheng)1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口,所以(yi)本機又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。


絕緣材料的介質損耗自動測量解決方案簡介
滿足標準:GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在
內(nei))下電容率和介質(zhi)損(sun)耗因(yin)數的推薦(jian)方法(fa)

 

 

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