產品概述
20Hz~2MHz介電常數測試儀性(xing)能特點4.3寸TFT液晶顯示中(zhong)英(ying)文可選操(cao)作界面最高1MHz的測試頻率(lv),10mHz分(fen)辨率(lv)
◎ 平衡測(ce)試功(gong)能(neng)(neng)變壓(ya)器參數測(ce)試功(gong)能(neng)(neng)最(zui)高測(ce)試速度:13ms/次電壓(ya)或電流的(de)自動電平調整(ALC)功(gong)能(neng)(neng)
◎ V、I 測試(shi)信(xin)號電平監視功(gong)能(neng)(neng)內部自帶(dai)直流(liu)偏置 可外接大電流(liu)直流(liu)偏置源10點列表掃(sao)描(miao)測試(shi)功(gong)能(neng)(neng)30Ω、50Ω、100Ω可選內阻內建比較器,10檔分(fen)選和計(ji)數功(gong)能(neng)(neng)內部文件存(cun)儲(chu)和外部U盤文件保(bao)存(cun)
◎ 測量(liang)數據可直接保(bao)存到(dao)U盤
◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接(jie)口
20Hz~2MHz介電常數測試儀
產品型號 | GDAT-S | |
測試信號源 | ||
信號源輸出阻抗 | 100Ω, ±1% @1kHz | |
測試頻率 | 范圍 | 20Hz-10MHz |
分辨率 | 20.0000Hz - 99.9999Hz 1mHz | |
100.000Hz - 999.999Hz 10mHz | ||
1.00000kHz - 9.99999kHz 100mHz | ||
10.0000kHz - 99.9999kHz 1Hz | ||
100.000kHz - 999.999kHz 10Hz | ||
1.00000MHz - 10.00000MHz 100Hz | ||
AC測試信號模式 | 額定(ding)值(ALC OFF):設(she)定(ding)電(dian)壓為測試端開路時(shi)Hcur電(dian)壓,設(she)定(ding)電(dian)流為測試端短路時(shi)從Hcur流出電(dian)流 恒定值(ALC ON): 保持(chi)(chi)DUT上電(dian)壓與設定值相同(tong),保持(chi)(chi)DUT上電(dian)流與設定值相同(tong) | |
AC信號 | 電壓范圍 | F≤2MHz 5mVrms-- 2Vrms F >2MHz 5mVrms -- 1Vrms |
分辨率 | 5mVrms -- 0.2Vrms 100µVrms | |
0.2Vrms -- 0.5Vrms 200µVrms | ||
0.5Vrms -- 1Vrms 500µVrms | ||
1Vrms -- 2Vrms 1mVrms | ||
電流范圍 | 50µArms -- 20mArms | |
分辨率 | 50µArms -- 2mArms 1µArms | |
2mArms -- 5mArms 2µArms | ||
5mArms -- 10mArms 5µArms | ||
10mArms -- 20mArms 10µArms | ||
Rdc測試 | 電壓范圍 | 100mV — 2V |
分辨率 | 100µV | |
電流范圍 | 0mA— 20mA | |
分辨率 | 1µA | |
DC偏置 | 電壓范圍 | 0V — ± 40V |
分辨率 | 0V -- 5V 100µV | |
5V -- 10V 1mV | ||
10V -- 20V 2mV | ||
20V -- 40V 5mV | ||
電流范圍 | 0mA— ± 100mA | |
分辨率 | 0 A -- 50mA 1µA | |
50mA -- 100mA 10µA | ||
電壓源 | 電壓范圍 | -10V -- 10V |
分辨率 | 1mV | |
電流范圍 | -45mA -- +45mA | |
輸出阻抗 | 100Ω | |
顯示器 | ||
尺寸/類型 | 7英寸(cun) (對角線)TFT LCD顯(xian)示器 | |
比例 | 16:9 | |
分辨率 | 800×RGB×480 | |
測量功能 | ||
測試參數 | Cp-D,Cp-Q,Cp-G,Cp-Rp Cs-D,Cs-Q,Cs-Rs Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc, Rdc R-X, Z-θd, Z-θr G-B, Y-θd, Y-θr Vdc-Idc | |
數學功能 | A(X+B)+C, X為測(ce)試參數,A、B、C為輸入參數 | |
等效電路 | 串聯、并聯 | |
偏差測量 | 與(yu)標稱值的絕對(dui)偏差Δ,與(yu)標稱值的百分比偏差Δ% | |
校準功能 | 開路OPEN、短路SHORT、負載(zai)LOAD | |
量程選擇 | 自(zi)動AUTO、手動HOLD | |
量程 | LCR | 100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、 100kΩ,共15檔 |
Rdc | 1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ,共15檔(dang) | |
觸發模式 | INT、MAN、EXT、BUS | |
觸發延遲 | 0 s -- 999 s,分辨率100us | |
測試端配置 | 四端對 | |
測試電纜長度 | 0m, 1m, 2m | |
測量平均 | 1-255次 | |
測量顯示范(fan)圍 a 1×10-18; E 1×1018 | ||
Cs, Cp | ±1.000000 aF -- 999.9999 EF | |
Ls,Lp | ±1.000000 aH -- 999.9999 EH | |
D | ±0.000001 -- 9.999999 | |
Q | ±0.01 -- 99999.99 | |
R, Rs, Rp, X, Z, Rdc | ±1.000000 aΩ -- 999.9999 EΩ | |
G,B,Y | ±1. 000000 aS -- 999.9999 ES | |
Vdc | ±1.000000 aV -- 999.9999 EV | |
Idc | ±1.000000 aA -- 999.9999 EA | |
θ r | ±1.000000 a rad -- 3.141593 rad | |
θ d | ±0.0001 deg -- 180.0000 deg | |
Δ% | ±0.0001% -- 999.9999% | |
t | -99.99℃ -- 1000.00℃ | |
Turn Ratio (待擴展(zhan)) | ±0.000000 -- 1000.000 | |
基本測量準確度 | 0.05%(詳(xiang)見說明書) | |
列表掃描 | ||
掃描點數 | 最多201點 | |
掃描參數 | 測試(shi)頻率、AC電(dian)(dian)壓(ya)、AC電(dian)(dian)流(liu)、DC BIAS電(dian)(dian)壓(ya)、DC BIAS電(dian)(dian)流(liu) | |
第二掃描參數 | 無、量程(cheng)方式(shi)、測試頻率、AC電(dian)壓(ya)、AC電(dian)流、DC BIAS電(dian)壓(ya)、DC BIAS電(dian)流、直流源電(dian)壓(ya)。 注(zhu):已選(xuan)擇的第一掃描(miao)參(can)數(shu)(shu)(shu)參(can)數(shu)(shu)(shu)不能(neng)再選(xuan)為第二掃描(miao)參(can)數(shu)(shu)(shu)。 | |
觸發模式 | 順序SEQ | 當一(yi)次觸(chu)發后,在所有掃描點測量。/EOM/INDEX只輸出一(yi)次。 |
步進STEP | 每(mei)次觸發(fa)執行一個(ge)掃描點測量。每(mei)點均輸出(chu)/EOM/INDEX,但(dan)列表掃描比較器(qi)結(jie)果只在最后的(de)/EOM才輸出(chu)。 | |
列表掃描比較器 | 可為每個掃(sao)描(miao)點設置一對下(xia)限和(he)上限。 可選擇:通過第一掃描參(can)(can)數判斷(duan)/通過第二(er)參(can)(can)數判斷(duan)/不用于每一極限。 | |
列表掃描時間標記 | 在(zai)順序模式中,將觸發點設(she)定(ding)為0時(shi),通過定(ding)義(yi)時(shi)間就可在(zai)每個測(ce)(ce)量(liang)點記(ji)錄測(ce)(ce)量(liang)開始(shi)的時(shi)間。 | |
圖形掃描分析 | ||
掃描點數 | 51、101、201、401、801點(dian)可選 | |
掃描軌跡 | 主/副參數可選擇 | |
顯示范圍 | 自動、鎖定 | |
坐標標尺 | 對數、線性 | |
掃描參數 | 頻率、ACV、ACI、DCV BIAS/DCI BIAS、直流電壓源 | |
掃描結果顯示 | 主/副參數最大值/最小值、設定點(dian)主/副參數值 | |
掃描圖形存儲 | 掃描(miao)圖形可(ke)存(cun)儲(chu)于儀器內部FLASH、外部USB存(cun)儲(chu)器或上傳上位機。 | |
比較器 | ||
Bin分檔 | 主參數 | 9 BIN、OUT_OF_BINS、AUX_BIN和LOW_C_REJECT |
副參數 | HIGH、IN、LOW | |
Bin極限設置 | 絕對值(zhi)、偏差值(zhi)、百分偏差值(zhi) | |
Bin計數 | 0 -- 999999 | |
PASS/FAIL指示(shi) | 滿(man)足主參(can)數(shu)為9 BIN之一、副參(can)數(shu)為IN,前面板(ban)PASS燈ON,否則FAIL ON | |
測量輔助功能 | ||
數據緩沖存儲功能 | 201個測量結果可分批(pi)讀取(qu) | |
保存/調用功能 | 40組(zu)儀器(qi)(qi)內(nei)置非易失存(cun)儲器(qi)(qi)測試設定(ding)文件 500組儀器(qi)USB存儲器(qi)測(ce)試設定文件(jian)/截屏圖形(xing)/記錄(lu)文件(jian) | |
鍵盤鎖定功能 | 可鎖定前面板按鍵 | |
接口 | ||
USB HOST端口 | 通用串行總線插座,A類(lei);FAT16/FAT32格(ge)式(shi)。U盤存儲或條(tiao)形碼掃描 | |
USB DEVICE端口 | 通用串行(xing)總線(xian)插座,小型B類(4個接(jie)觸位置);與USBTMC-USB488和USB 2.0相(xiang)符合(he),陰接(jie)頭(tou)用于(yu)連接(jie)外部控制(zhi)器。 | |
LAN | 10/100BaseT以太網,8引(yin)腳,兩種(zhong)速(su)度選擇 | |
HANDLER接口 | 用于Bin分檔(dang)信(xin)號輸出 | |
外部DC BIAS控制(zhi) | 控(kong)制(zhi)TH1778/TH1778S偏置(zhi)電流源,最多(duo)一臺TH1778+5臺TH1778S (120A MAX) | |
RS232C | 標準9針,交叉 |
- 上一個: BDJC-5KV有機硅膠電壓擊穿測試儀
- 下一個: BDJC-10KV云母擊穿電壓測量儀