產品概述
四探針導電材料電阻率測試儀在測試過程中,在滿足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。四探針導電材料電阻率測試儀自(zi)動(dong)修正,降低了(le)其(qi)對測(ce)(ce)(ce)試(shi)結(jie)果(guo)的(de)影(ying)響(xiang)(xiang),從而提高了(le)測(ce)(ce)(ce)量(liang)結(jie)果(guo)的(de)準確度。通過采用四探(tan)(tan)針雙位組合測(ce)(ce)(ce)量(liang)技術,將(jiang)范德堡測(ce)(ce)(ce)量(liang)方法(fa)應用到直線四探(tan)(tan)針上。利用電流探(tan)(tan)針和(he)電壓探(tan)(tan)針的(de)組合變(bian)換,進行兩次電測(ce)(ce)(ce)量(liang),其(qi)最后計算(suan)結(jie)果(guo)能自(zi)動(dong)消除由樣品(pin)幾何尺寸、邊界效應以及探(tan)(tan)針不(bu)等距和(he)機械游移等因(yin)素所引起的(de),對測(ce)(ce)(ce)量(liang)結(jie)果(guo)的(de)不(bu)利影(ying)響(xiang)(xiang)。適用于生(sheng)產(chan)企業、高等院校、科研部門(men),是檢(jian)驗(yan)和(he)分析半導(dao)體材料質量(liang)的(de)工(gong)具(ju);液晶(jing)顯(xian)示,自(zi)動(dong)測(ce)(ce)(ce)量(liang)和(he)系(xi)數(shu)補償(chang),并帶有溫度補償(chang)功能,自(zi)動(dong)轉換量(liang)程;采用AD芯片控(kong)制,恒流輸出,選配:PC軟(ruan)件(jian),保(bao)存(cun)和(he)打印數(shu)據,生(sheng)成報表
用于:覆(fu)蓋膜(mo);導(dao)電高分子膜(mo),高、低溫電熱膜(mo);隔熱、導(dao)電窗(chuang)膜(mo) 導(dao)電(屏蔽)布(bu)、裝飾(shi)膜(mo)、裝飾(shi)紙;金屬化標簽、合金類箔膜(mo);熔煉、燒(shao)結(jie)、濺(jian)射、涂覆(fu)、涂布(bu)層,電阻(zu)式(shi)、電容(rong)式(shi)觸屏薄膜(mo);電極涂料,其他半導(dao)體材料、薄膜(mo)材料方阻(zu)測試(shi)等相關產品
電阻測量范圍:
1、電阻率(lv): 1×10-6~2×106Ω.cm、
電 阻:1×10-5~2×105Ω
電導率:5×10-6~1×108ms/cm
分辨率: 最小1μΩ
測量誤差±5%
2、測量電壓量程: 2mV 20mV 200mV 2V
測量精度(du)±(0.1%讀數)
分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴電流輸出:直流電流 0~1000mA 連續可調,由交流電源供電。
⑵量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA,
⑶誤差:±0.2%讀數±2字
4. 主機外(wai)形尺寸(cun):330mm*350mm*110mm
5、顯示(shi)方(fang)式:液晶顯示(shi)6、電源:220±10% 50HZ/60HZ
7、標(biao)配:測(ce)試平臺一套、主機一套、電源線數(shu)據線一套。
四端測(ce)(ce)試(shi)法是目(mu)前較(jiao)先進(jin)之(zhi)測(ce)(ce)試(shi)方法,主要針對(dui)高精度要求之(zhi)產品測(ce)(ce)試(shi);本儀器廣(guang)泛(fan)用于生產企業、高等院校、科研(yan)部門,是檢(jian)驗和分析導(dao)體材(cai)料和半導(dao)體材(cai)料質(zhi)量的一種重要的工具。
本儀(yi)器配置(zhi)各類測量裝置(zhi)可以(yi)測試(shi)(shi)不同材(cai)料(liao)(liao)之電(dian)(dian)導(dao)率(lv)。液(ye)晶顯(xian)示,無需人工計(ji)算,并帶有溫度補(bu)償功(gong)能,電(dian)(dian)導(dao)率(lv)單位自(zi)動選擇,BEST-300C 材(cai)料(liao)(liao)電(dian)(dian)導(dao)率(lv)測試(shi)(shi)儀(yi)自(zi)動測量并根據測試(shi)(shi)結果(guo)自(zi)動轉換量程,無需人工多次和重復設置(zhi)。選配:配備軟件(jian)可以(yi)由電(dian)(dian)腦操控(kong),并保存和打印數據,自(zi)動生成圖表(biao)和報表(biao)。
本儀器采用4.3吋大液晶屏幕(mu)顯(xian)示(shi),同時顯(xian)示(shi)電阻值、電阻率(lv)、方阻、電導率(lv)值、溫度、壓強值、單位(wei)自動換算,配置不同的測(ce)(ce)試(shi)治具可(ke)以滿(man)足不同材料的測(ce)(ce)試(shi)要(yao)求。測(ce)(ce)試(shi)治具可(ke)以根(gen)據(ju)產品及(ji)測(ce)(ce)試(shi)項目要(yao)求選購.
提供(gong)中文(wen)或英(ying)文(wen)兩(liang)種語言操作界面選(xuan)擇,滿(man)足國(guo)內及(ji)國(guo)外客戶需(xu)求(qiu)硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及(ji)國(guo)家(jia)標準設計制造(zao);GB/T 1551-2009 《硅單(dan)晶電阻率測定(ding)方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單(dan)晶電阻率測定(ding)直流四探針法》.
- 上一個(ge): RBWK-300A熱變形高分子材料維卡軟化點溫度測定儀
- 下一個: BC-50A純水在線總有機碳分析儀