產品概述
直流式探針測試儀簡介:
采用(yong)四探(tan)針組合雙(shuang)(shuang)電測(ce)(ce)量方(fang)法(fa),液晶顯示,自(zi)動(dong)測(ce)(ce)量,自(zi)動(dong)量程,自(zi)動(dong)系(xi)數補償.高(gao)集(ji)成電路系(xi)統、恒流輸出(chu);選配:PC軟件進(jin)(jin)行數據(ju)管理和處理.雙(shuang)(shuang)電測(ce)(ce)數字(zi)式四探(tan)針測(ce)(ce)試(shi)儀是運用(yong)直線或方(fang)形(xing)四探(tan)針雙(shuang)(shuang)位測(ce)(ce)量。該儀器設計(ji)符合單晶硅物理測(ce)(ce)試(shi)方(fang)法(fa)國家(jia)標(biao)準并參考美(mei)國A.S.T.M標(biao)準。利用(yong)電流探(tan)針、電壓(ya)探(tan)針的(de)變換(huan),進(jin)(jin)行兩(liang)次電測(ce)(ce)量,對數據(ju)進(jin)(jin)行雙(shuang)(shuang)電測(ce)(ce)分析,解(jie)決樣品幾何(he)尺寸、邊界效(xiao)應以及探(tan)針不等距(ju)和機械(xie)游移(yi)等因素對測(ce)(ce)量結果的(de)影響.
具有測量范圍寬、精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、外形美觀、使用簡便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
BEST-300C 型材料電導率測試儀是運用四探針測量原理測試試導體、半導體材料電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成:由主機、選配的四探針探頭和測試臺等三部分組成。
主機主要由數控恒流源,高分辨率 ADC、嵌入式單片機系統組成。自動/手動量程可選;電阻率、方阻、電阻測試類別快捷切換:儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入,簡便可靠;具有零位、滿度自校功能;測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電鋰電池供電,適合手持式變動場合操作使用!
直流式探針測試儀參數特點:
1. 便于查看的顯示/直觀(guan)的操作(zuo)性:高亮度(du)、超清晰(xi)4.3寸彩色LCD顯示;操作(zuo)易學,直觀(guan)使用;
2. 基(ji)本設置(zhi)操作簡單,方阻、電(dian)阻、電(dian)阻率、電(dian)導(dao)率和分選結果;多種(zhong)參(can)數同(tong)時顯示(shi)。
3. 精(jing)度(du)(du)(du)高:電(dian)阻基本(ben)準確(que)度(du)(du)(du): 0.05%;方阻基本(ben)準確(que)度(du)(du)(du):3%;電(dian)阻率(lv)基本(ben)準確(que)度(du)(du)(du):3%
4. 整(zheng)機(ji)測量(liang)最大相對誤(wu)差:≤±3%;整(zheng)機(ji)測量(liang)標準不確定度:≤±3%
5. 四位半顯(xian)示(shi)讀數;八量(liang)程自動或(huo)手(shou)動測試;
6. 測量范圍寬: 電阻(zu):10-4Ω~105Ω ;方阻(zu):10-4Ω/□~105Ω/□;
7. 正(zheng)反向(xiang)電流源修正(zheng)測(ce)量(liang)電阻誤差
8. 恒(heng)流(liu)(liu)源:電流(liu)(liu)量程分為: 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六(liu)檔;儀器(qi)配有恒(heng)流(liu)(liu)源開(kai)關(guan)可有效保護(hu)被測件,即先(xian)讓(rang)探(tan)針頭壓(ya)觸在被測材料(liao)上(shang),后開(kai)恒(heng)流(liu)(liu)源開(kai)關(guan),避免接觸瞬(shun)間打火。為了提高(gao)工作(zuo)效率,如探(tan)針帶電壓(ya)觸單晶對材料(liao)及測量并無影響時,恒(heng)流(liu)(liu)源開(kai)關(guan)可一直處于(yu)開(kai)的狀態。
9. 可配(pei)合多種(zhong)探(tan)頭進(jin)行測試(shi);也可配(pei)合多種(zhong)測試(shi)臺進(jin)行測試(shi)。
10. 校正功(gong)能(neng):可(ke)手動(dong)(dong)或(huo)自動(dong)(dong)選擇測(ce)試量程(cheng) 全量程(cheng)自動(dong)(dong)清零。
11. 厚(hou)度可預設,自動修正(zheng)樣品的電(dian)阻率,無需查表即可計算出電(dian)阻率。
12. 自動進(jin)(jin)行電(dian)流(liu)(liu)換(huan)向,并進(jin)(jin)行正(zheng)反(fan)向電(dian)流(liu)(liu)下的電(dian)阻(zu)率(或方塊電(dian)阻(zu))測量,顯示(shi)平均值.測薄片時,可(ke)自動進(jin)(jin)行厚度(du)修(xiu)正(zheng)。
13. 雙(shuang)電測測試模式(shi),測量精度(du)高(gao)、穩定性(xing)好.
14. 具(ju)備溫度補償(chang)功能,修正被(bei)測材料溫漂帶來的測試結果(guo)偏差。
15. 比較器判斷燈(deng)直接(jie)顯示,勿需(xu)查看屏幕,作(zuo)業效率得(de)以提高。
3檔分(fen)選功能:超上限,合(he)格(ge),超下(xia)限,可對被測件進行(xing)HI/LOW判斷,可直(zhi)接(jie)在LCD使(shi)用標志顯(xian)示;也可通過USB接(jie)口、RS232接(jie)口輸出更為(wei)詳(xiang)細的分(fen)選結果。
16. 測試模(mo)式:可(ke)連接(jie)(jie)電腦測試、也(ye)可(ke)不連接(jie)(jie)電腦單機測試。
17. 豐富的接口,Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。實現遠程控(kong)制。U盤可(ke)記錄測試數據
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